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Product CategorySuperView W1三維光學(xué)成像輪廓儀測粗糙度對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面粗糙度形貌的3D測量。
SuperViewW1非接觸式三維光學(xué)輪廓儀器可以測到12mm,也可以測到更小的尺寸,XY載物臺標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm,局部位移精度可達(dá)亞微米級別,鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um,Z向掃描電機(jī)可掃描10mm范圍,縱向分辨率可達(dá)0.1nm級別,因此可測非常微小尺寸的器件。
SJ5780一鍵粗糙度輪廓度測量儀是大量程、高精度的主動掃描式綜合輪廓測量儀器,可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力。
中圖儀器SuperViewW1三維輪廓測量儀可測2D/3D輪廓、粗糙度,300余種特征參數(shù),在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域可得到廣泛應(yīng)用,如光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。
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