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CEM3000高分辨率鎢燈絲掃描電鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。CEM3000系列上還運用了快速抽放氣設(shè)計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統(tǒng)，以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度，滿足不同樣品的觀測需求。

VT6000高分辨率共聚焦顯微鏡系統(tǒng)采用全電動化設(shè)計，并可無縫銜接位移軸與掃描軸的切換，圖像視窗和分析視窗同界面的設(shè)計風(fēng)格，實現(xiàn)了所見即所得的快速檢測效果。它能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)，顯示出精細(xì)的細(xì)節(jié)圖像。

CEM3000系列超清成像臺式掃描電鏡采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時也能獲取到充足的信號。即使針對微弱信號，CEM3000系列臺式電鏡搭載的處理算法亦可將信號從背底中進行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

NS系列探針接觸式臺階儀用光學(xué)干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷、塑料等。

VT6000共聚焦三維表面形貌測量顯微鏡可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器國產(chǎn)白光干涉儀品牌產(chǎn)品不通倍率的鏡頭，適應(yīng)于從超光滑到粗糙度各種表面類型的樣品。儀器外殼與內(nèi)部運動機構(gòu)采用了分離式設(shè)計，有效隔離了聲波振動的傳導(dǎo)；外接氣源和加壓裝置直接充氣的雙通道氣浮隔振系統(tǒng)，可有效隔離地面?zhèn)鲗?dǎo)的振動噪聲。